WPA系列双折射应力测试设备

　　WPA系列双折射应力测试设备可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattice公司以其的光子晶体制造技术开发的产品，*的测量技术，使其成为*的光学测量产品。 双折射应力测试设备在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的多功能机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。
双折射应力测试设备WPA-200主要特点:
操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
*很高的残余应力测量设备。
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
· 有机材料（球晶、FishEve）
http://www.oelectron.cn/Products-39743104.html
https://www.chem17.com/st348659/product_39743104.html